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テスケンMAGNAの次世代超高分解能電界放出走査電子顕微鏡
MAGNA次世代超高分解能電界放出走査電子顕微鏡
製品の詳細

製品概要:

TESCAN MAGNAナノ材料の形態特性評価及びミクロ分析に適した極めて強力な分析機器である。MAGNA構成Triglav™タイプSEM鏡筒は、超高解像度を持ち、低電圧で特に顕著である、鏡筒内検出器システムは電子信号フィルタリング能力を持ち、より良い画像ライニングと表面感度を得ることができ、セラミックス、無被覆生物サンプル、半導体感光サンプルなどの非導電サンプルのイメージングに非常に適している。

製品の特徴

  • 独自のリアルタイム電子ビーム追跡技術(In-flight Beam Tracing™)機能により、ビームスポットのサイズとビームフロー強度を最適化することができます。
  • ユニークTriBETMTriSETMIn-Beam検出器システムは、より先進的なナノスケール特性化を実現する。
  • TESCAN Essence™便利な電子顕微鏡操作ソフト。
  • 設定可能TESCAN自己所有またはサードパーティの複数の拡張解析用添付ファイル(例:EDSEBSDCLRaman併用する。
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